錦正茂科技 定制高低溫探針臺 高低溫探針臺T8-LY100能夠為半導體芯片的電學參數測試提供一個80K-420K高低溫測試環境，通過外接不同的電學測量儀器，

實驗測量設備磁場探針臺芯片測試半導體儀器 用于高低溫真空環境下的芯片測試，材料測試，霍爾測試，電磁輸運特性等。

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變溫教學霍爾測試系統 磁場大于3900高斯 本儀器用于霍爾效應及其應用、載流子類型、載流子類型轉變的演示和學生實驗。